電壓擊穿試驗(yàn)儀分析
電壓擊穿試驗(yàn)儀工作解析優(yōu)點(diǎn)
T1自耦調(diào)壓器 T2.試驗(yàn)變壓器 3.限流電阻 TV電壓專感器 M試樣，Ro保護(hù)電阻
優(yōu)點(diǎn)一、本試驗(yàn)儀器，通過(guò)西門(mén)子cpu系統(tǒng)控制步進(jìn)電機(jī)旋轉(zhuǎn)帶動(dòng)自耦調(diào)壓裝置進(jìn)行對(duì)高壓試驗(yàn)變壓器升壓，試驗(yàn)過(guò)程中通過(guò)電壓、電流傳感器采集，相應(yīng)的電壓及電流傳給cpu進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。
試驗(yàn)過(guò)程可以的反應(yīng)出電壓及電流的數(shù)值，材料擊穿后，因瞬間電流增大，電壓出現(xiàn)下降，在0.1S內(nèi)cpu可響應(yīng)切斷高壓輸入端，操作軟件界面指示燈閃爍，電機(jī)反轉(zhuǎn)歸位。（目前市面上有兩種升壓方式，一種為自耦調(diào)壓裝置對(duì)高壓試驗(yàn)變壓器升壓，此方式也是國(guó)標(biāo)1408要求的試驗(yàn)方式，主要因?yàn)樽择钫{(diào)壓器輸出波型穩(wěn)定，使用壽命長(zhǎng)，抗干擾能力較強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)故我公司采用，
第二種方式，采用交流電子調(diào)壓（也就是我們所說(shuō)的可控硅）對(duì)高壓試驗(yàn)變壓器升壓，可控硅是采用切波的原理實(shí)現(xiàn)，對(duì)電網(wǎng)造成影響，發(fā)熱量大，在做耐壓試驗(yàn)中無(wú)法實(shí)現(xiàn)輸出穩(wěn)定的電壓。但有一個(gè)很好聽(tīng)的名字---無(wú)極調(diào)速）
優(yōu)點(diǎn)二、優(yōu)本試驗(yàn)儀器使用各兩組4只電壓、電流傳感器，分別置于高壓輸入端及升壓端，在的情況下，如發(fā)生一只傳感器出現(xiàn)問(wèn)題，試驗(yàn)將無(wú)法升壓，以更好的保證試驗(yàn)過(guò)程中的安全。在試驗(yàn)過(guò)程中，如試驗(yàn)變壓器輸出端通過(guò)電壓傳感器采集不歸零的情況下，也試驗(yàn)無(wú)法進(jìn)行。
優(yōu)點(diǎn)三、電壓及電流傳感器為訂制產(chǎn)品，精度遠(yuǎn)高于普通電壓及電流互感器。精度可控制在0.5%精度。
優(yōu)點(diǎn)四、軟件可實(shí)現(xiàn)電壓，泄漏電流同時(shí)顯示曲線功能
標(biāo)簽：
電壓擊穿試驗(yàn)儀
介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀
耐電壓強(qiáng)度擊穿試驗(yàn)儀
工頻耐電壓強(qiáng)度試驗(yàn)儀
介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)電壓儀
體積表面電阻率測(cè)試儀
體積電阻率測(cè)試儀
表面電阻率測(cè)試儀
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀
介電常數(shù)測(cè)試儀
介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀
過(guò)濾器完整性測(cè)試儀
TOC總有機(jī)碳分析儀
TOC分析儀
